可編程高低溫沖擊試驗(yàn)箱主要結(jié)構(gòu)是由三個(gè)槽（高溫槽、低溫槽、產(chǎn)品槽）組成，高溫槽即是生產(chǎn)及儲(chǔ)存高溫，低溫槽即是生產(chǎn)及儲(chǔ)存低溫，產(chǎn)品槽則是提供給顧客擺放產(chǎn)品的空間容積。沖擊原理是采用氣體驅(qū)逐高、低溫槽的冷熱溫到擺放產(chǎn)品槽的空間內(nèi)完成試驗(yàn)。

用于電子電器零組件、通訊組件、自動(dòng)化零部件、汽車配件、化學(xué)材料、金屬、塑膠等行業(yè)、航天、防工業(yè)、BGA、兵工業(yè)、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品處于熱脹冷縮的物理環(huán)境產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)各種產(chǎn)品的品質(zhì),從密的IC到重機(jī)械的組件，無(wú)一不需要它,目前此設(shè)備是工業(yè)產(chǎn)業(yè)共認(rèn)的理想測(cè)試工具。

可編程高低溫沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù):

1.內(nèi)箱尺寸：W400mm*H500mm*D400mm(愛(ài)佩可根據(jù)顧客需要做出更多合適尺寸的設(shè)備）

2.外箱尺寸：以實(shí)際尺寸為標(biāo)準(zhǔn)。

3.高溫槽預(yù)熱溫度范圍：+60℃～200℃；

4.升溫時(shí)間： +60℃～200℃≤30min；

5.低溫槽預(yù)冷溫度范圍： -75～-10℃；

6.降溫時(shí)間： +20℃～-75℃≤60min；﹙注：降溫時(shí)間為低溫槽單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能﹚

7.試驗(yàn)方式： 氣動(dòng)風(fēng)門切換

8.溫度沖擊范圍： ﹙+60℃～+150℃﹚/﹙-65℃～-10℃﹚

9.溫度波動(dòng)度： ±0.5℃

10.溫度偏差： ±2.0℃

11溫度恢復(fù)時(shí)間： ≤5分鐘

12.試樣限制：本實(shí)驗(yàn)設(shè)備禁止易爆、易燃、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存；腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存；