低溫溫控箱主要為電子零件、工業(yè)材料、成品研發(fā)、生產(chǎn)、檢驗各環(huán)節(jié)的試驗提供恒定溫?zé)?，?fù)雜高低溫交變等試驗環(huán)境和試驗條件。適用于：電子電器、通訊、化工、五金、橡膠、玩具、科研、醫(yī)療、航天、建材等各行業(yè)。

低溫溫控箱特點：高低溫試驗箱試驗箱主要由控制面板、配電盤、保溫隔層、送風(fēng)機、冷凍機組合而成，主要規(guī)格可分為6種標(biāo)準(zhǔn)尺寸及10種不同條件之規(guī)范，控制器可經(jīng)選配由LAN界面與計算機連線，使用者可以在計算機熒幕上設(shè)計程式、收集測試資料與記錄、呼叫程式執(zhí)行、遙控機器開關(guān)機等功能。利用多翼式送風(fēng)機強力送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，使室內(nèi)溫濕度分布均勻。安全保護(hù)裝置，假如異常狀況發(fā)生時，控制器熒幕上即自動顯示故障狀態(tài)，切斷電源開關(guān)，并提供故障排除方法。

技術(shù)參數(shù)：

內(nèi)容積：800L

內(nèi)箱尺寸：1000*1000*800mm      (W* H *D)

測試環(huán)境條件：機器周圍環(huán)境溫度維持在+5~+35℃之間，相對濕度：≤85%；氣壓：86kPa～106kPa正常大氣壓力。

滿足標(biāo)準(zhǔn)：·GB/T10589-2008低溫試驗箱技術(shù)條件，GB/T10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件，GB/T2423.1-2008低溫試驗Aa , Ab，GB/TT2423.2-2008試驗B:高溫試驗方法.，MIL-STD810D方法502.2，GB/T2423.4-2008（MIL-STD810）方法507.2程式3

溫度范圍：-60℃～150℃(風(fēng)冷式)

升降溫速率：RT～+150℃/40min(空載)約3℃/min；     降溫：RT～-60℃/90min(空載)約1℃/min

溫度穩(wěn)定度：±0.5℃

溫度均勻度：±2.0℃

內(nèi)外箱材質(zhì)：測試區(qū)內(nèi)箱不銹鋼板 ( SUS # 304 )，外箱烤漆或者不銹鋼板可選。