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冷熱沖擊箱模擬適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試設(shè)備。
可程式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)型號(hào)尺寸: AP-CJ--80 內(nèi)箱尺寸:500×400×400 AP-CJ--150 內(nèi)箱尺寸:600×500×500 AP-CJ--250 內(nèi)箱尺寸:700×600×600 AP-CJ-S-480 內(nèi)箱尺寸:800×800×750
冷熱循環(huán)實(shí)驗(yàn)箱溫濕度控制儀表:可編程臺(tái)通TT-5188控制器,7寸大屏幕,觸摸屏輸入,中英文切換。
上海沖擊試驗(yàn)機(jī)零下溫度技術(shù)參數(shù): 溫度范圍:-65℃~+150℃(可編程任意設(shè)定)也可選擇更小的溫度
三槽式高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間:從制冷低溫區(qū)到加熱高溫區(qū)或從加熱高溫區(qū)到制冷低溫區(qū)≤10S
溫度沖擊試驗(yàn)箱多少錢/冷熱沖擊箱溫度恢復(fù)時(shí)間:≤5min(沖擊箱的恢復(fù)時(shí)間與暴露溫差、冷卻水溫、恒溫時(shí)間、樣品重量有關(guān))
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